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  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀

  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。

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  CMS2 STEP — 同時測量多鍍層厚度和電位差

  CMS2 STEP — 同時測量多鍍層厚度和電位差 CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。CMS2 STEP的典型應用: 汽車制造中的Cr裝飾物， 多層鎳的鍍層

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  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個測量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽） 。各種測量臺設計適合不同的應用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。

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  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀

  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。

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  電位測厚COULOSCOPE CMS2 STEP

  電位測厚COULOSCOPE CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。

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  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀

  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀 庫侖法是一種簡單易行的電化學分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質量，但它也適用于檢測印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP汽車業(yè)廣受歡迎

  菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP汽車業(yè)廣受歡迎 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產監(jiān)控和質量檢驗理想的解決方法。 設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統(tǒng).

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  電解退鍍 庫侖測厚儀菲希爾 cms2 step

  電解退鍍 庫侖測厚儀菲希爾 cms2 step ◇ 使用電解退鍍技術（庫侖法），同時測量鍍層厚度和電位差 ◇ 圖形顯示的交互方式，菜單指引的操作提示，易于操作 ◇ 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度 ◇ 也適合測量多鍍層厚度

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  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型

  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型 德國菲希爾 CMS2 STEP 庫侖測厚儀采用庫侖方法的鍍層測量儀，有中文操作系統(tǒng)，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大LCD 顯示器；帶鍵盤；預先定義大約100 種常用金屬鍍層；50 條存記錄用于特定應用的參數(shù)和3000 個測量值。該價格包括電源電纜，塑料灰塵罩及操作手冊。

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  電解式（庫侖）測厚儀cms2 step測試原理

  電解式（庫侖）測厚儀cms2 step測試原理 STEP Test 是（Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination）（同時測量鍍層厚度和化學電位差）的簡寫， 是已經標準化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量

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  多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP

  多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

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  上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP

  上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。

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  菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

  菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀COULOSCOPE®CMS STEP除了與COULOSCOPE®CMS相對應的涂層厚度測量之外，COULOSCOPE®CMS STEP還提供了根據(jù)ASTM B764 - 94和DIN 50022進行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE®CMS STEP非常適合測量 以簡單的標準符合方式，單個涂層厚度和多個鎳涂層的電位差 。

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  Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

  Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀 在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度及電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求，德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應此而成功研制并大量應用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。

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