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  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

  微電腦多功能電解測厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個測量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽） 。各種測量臺設(shè)計適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測試。

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  多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2

  多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測量時，它提供了一個比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)

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  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀

  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀 庫侖法是一種簡單易行的電化學(xué)分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但它也適用于檢測印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  微電腦多功能電解測厚儀配置說明

  微電腦多功能電解測厚儀配置說明 該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。

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  微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2

  微電腦多功能電解測厚儀Couloscope CMS2 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

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  費(fèi)希爾多功能電解測厚儀基本款

  費(fèi)希爾多功能電解測厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。

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  微電腦多功能電解測厚儀STEP

  微電腦多功能電解測厚儀STEP 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

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